Phenom Pharos
場發射電子顯微鏡

放大倍率高達1,000,000x
解析度優於 3 nm

Phenom ProX
高效能電子顯微鏡

放大倍率高達350,000x
BSD解析度優於6 nm

Phenom Pure
經濟型電子顯微鏡

放大倍率達65,000x
可選配EDS元素分析

Phenom XL G2
大樣品艙電子顯微鏡

放大倍率高達200,000x
可放100mm x 100mm樣品

Phenom GSR
槍支殘留分析電子顯微鏡

專門槍支殘留物分析
可七天24小時長時間穩定運行

Phenom Particle X
粉末分析電子顯微鏡

觀測金屬粉末的關鍵特性
識別單個顆粒形態和異物的粒度分佈
P-Series樣品杯
XL-Series樣品台
Phenom桌上型電子顯微鏡擁有完整的可擴充性,在SEM的基礎上增加了多種的分析軟體,滿足客戶進階分析的需求。

ProSuite 軟體

ProSuite 軟體包能夠使Phenom 電子顯微鏡使用者從拍攝的圖像中獲取大量的訊息,延展了SEM能力,滿足特定用戶的需求。

顆粒統計分析量測系統

顆粒統計分析量測系統能夠輕易獲得SEM圖像並分析產生報告,使用者能收集詳細的亞顆粒尺寸及粒度數據。

3D粗糙度重建系統

3D粗糙度重建系統使Phenom 電子顯微鏡能夠建立樣品3D圖像以及亞微米粗糙度量測。

Phenom自動化介面(PPI)

如果用戶想把Phenom電鏡整合或者創建一個客製的解決方案,Phenom自動化介面PPI是必不可少的。PPI可以控制Phenom電鏡的部分功能,包括樣品台、導航相機和影像拍攝…。

孔徑統計分析量測系統

孔徑統計分析量測系統能夠輕易獲得SEM圖像並分析產生報告,使用者能收集詳細的孔徑分布及孔徑參數 (粒徑尺寸、長短軸比…)。

元素分析線面掃描系統

元素分析線面掃描系統是EID軟體中的選配項,能夠顯示出樣品的元素分布情形。使用者可以針對某個點自行設定像素分辨率與擷取時間後進行元素分析。

纖維統計分析量測系統

相對於以往手動量測數值,纖維統計分析量測系統能快速獲得更精確的數值,效率高,操作簡單,更可以測量和分析具有大纖維直徑差異的樣品。

zh_TW繁體中文
en_USEnglish zh_CN简体中文 zh_TW繁體中文